一、準雙光束紫外可見分光光度計基線平直度的重要性(對分析測試誤差的影響)

　　紫外可見分光光度計的光度噪聲直接影響儀器的信噪比,它是限制分析檢測濃度下限的主要因素。目前, 各國紫外可見分光光度計的生產(chǎn)廠商, 給出的整機光度噪聲都是指儀器在500nm 處的光度噪聲( 稱之為整機的光度噪聲) , 主要用于比較不同儀器的優(yōu)劣。而紫外可見分光光度計的使用者往往要在不同波長上使用, 特別要在紫外區(qū)使用。所以, 只給出500 nm處的整機光度噪聲, 不能滿足使用者的要求。因此, 提出了基線平直度的概念。紫外可見分光光度計的基線平直度是指每個波長上的光度噪聲, 它是用戶zui關(guān)心的技術(shù)指標(biāo)之一。它是紫外可見分光光度計各個波長上主要分析誤差的來源之一。它決定紫外可見分光光度計在各個波長下的分析檢測濃度的下限。但是很可惜, 目前很多儀器制造者、使用者都還沒有認識到或還沒有重視基線平直度這個技術(shù)指標(biāo)。

　　二、基線平直度的測試方法

　　目前, 上對準雙光束紫外可見分光光度計的基線平直度的測試方法一般是冷態(tài)開機, 預(yù)熱0. 5h 后, 試樣和參比比色皿都為空氣, 光譜帶寬SBW = 2 nm, 吸光度值為0Ab s , 從長波向短波方向?qū)x器進行全波長慢速( 或中速) 掃描。而后, 在全波長范圍內(nèi), 找出峰-峰( P-P) 值中zui大的一點, 作為該儀器的基線平直度。

　　三、影響基線平直度的主要因素

　　(1 ) 濾光片或光學(xué)元件上有灰塵此時會產(chǎn)生散射, 從而引起基線平直度變壞。

　　(2 ) 濾光片未安裝好用于不同波段不同的濾光片切換時會產(chǎn)生噪聲, 使基線平直度變壞。

　　(3 ) 光源( 氘燈、鎢燈) 切換時產(chǎn)生噪聲一 般在340 ～360nm 左右出現(xiàn), 從而使基線平直度變壞。

　　(4 ) 基線平直度測試時掃描速度太快也會使基線平直度變壞。作者對國產(chǎn)某品牌紫外可見分光光度計的基線平直度進行了測試, 發(fā)現(xiàn)慢速掃描時基線平直度為±0. 000bs , 中速和快速掃描時, 基線平直度分別為±0. 0014Abs 和±0. 003bs。所以, 上約定, 測試準雙光束紫外可見分光光度計的基線平直度時, 掃描速度都用慢速。

　　(5 ) 電子學(xué)方面的噪聲過大也會直接影響基線平直度, 特別是放大器和光電轉(zhuǎn)換元件的噪聲, 對基線平直度的影響更大。

　　(6 ) 光學(xué)部分未調(diào)整好特別是單色器的光路未調(diào)整好, 會使信號減小,信噪比變小, 使基線平直度變壞。

　　(7 ) 環(huán)境因素包括振動、電場、磁場干擾、電壓不穩(wěn)等, 都會使基線平直度變壞。

　　四、正確認識及使用基線平直度

　　( 一) 基線平直度與整機的光度噪聲的主要區(qū)別

　　1. 物理概念不同

　　基線平直度: 是指紫外可見分光光度計儀器全波段內(nèi)每個波長上的噪聲,與濾光片切換和光源切換有關(guān)。

　　光度噪聲: 是指紫外可見分光光度計儀器在500nm 波長上的噪聲, 與濾光片切換和光源切換無關(guān)。

　　2. 準雙光束紫外可見分光光度計測試時儀器狀態(tài)不同

　　基線平直度: 儀器處在運動狀態(tài), 儀器的波長始終在變化。

　　光度噪聲: 儀器處在靜止?fàn)顟B(tài), 儀器的波長始終不變。

　　3. 測試波長位置不同

　　基線平直度: 測試儀器的全波長范圍內(nèi)每個波長的噪聲。

　　光度噪聲: 測試儀器固定在500nm 處時的噪聲。

　　4. 測試時掃描方式不同

　　基線平直度: 測試時用波長掃描方式。

　　光度噪聲: 測試時用時間掃描方式。

　　5. 影響因素不同

　　基線平直度: 如“ 三” 所述。

　　光度噪聲: 主要是電子學(xué)的元器件引起( 特別是放大器和光電轉(zhuǎn)換元件) ,

　　也包含少量的光噪聲。

　　6. 對分析測試誤差的影響不同

　　準雙光束紫外可見分光光度計基線平直度: 限制儀器實際可使用的波長范圍、影響儀器波長范圍內(nèi)的檢測下限, 在低濃度測試時是主要分析誤差的來源。

　　光度噪聲: 只影響儀器500nm 處的檢測下限, 主要作為比較儀器好壞的依據(jù)之一, 由此能粗略看出儀器性能好壞。

　　( 二) 基線平直度與基線漂移的主要區(qū)別

　　1. 物理概念不同

　　基線平直度: 全波長范圍內(nèi), 各個波長上的噪聲, 與濾光片和光源切換有關(guān)。

　　基線漂移: 與時間有關(guān)的光度值的變化量, 主要影響因素是儀器的電子學(xué)

　　部分和儀器周圍的環(huán)境。

　　2. 測試條件不同

　　基線平直度: 在0Ab s、SBW = 2nm 的條件下, 進行全波長慢速掃描。

　　基線漂移: 在0Ab s、SBW = 2nm、波長固定為500nm 的條件下, 儀器冷態(tài)開機( 關(guān)機2h 后開機) , 預(yù)熱2h 后, 進行時間掃描1h。取這1 h 內(nèi)zui大zui小值之差, 即為基線漂移。

　　3. 影響的因素不同

　　基線平直度: 影響基線平直度的因素有七個( 見“ 三”) 。

　　準雙光束紫外可見分光光度計基線漂移: 影響基線漂移的主要因素是儀器的電子學(xué)系統(tǒng)( 主要是電源)和環(huán)境( 電磁場、溫度、濕度等)。